《集成電路應用》期刊評職稱是否可用,需要綜合多方面因素進行判斷,可以通過聯系雜志社或咨詢在線客服獲取更多信息。
評職稱需結合以下因素綜合判斷:
一、期刊資質與收錄情況
(1)?國內期刊基本要求?:若具備國家新聞出版署備案的CN刊號(國內統一刊號)及ISSN號(國際標準刊號),且未被列入預警名單,則符合多數單位對職稱論文的資質要求。
(2)?數據庫收錄情況?:若被知網(CNKI)、萬方、維普等國內主流數據庫收錄,認可度更高;若僅為普通期刊或電子期刊,部分單位可能限制使用。
二、單位政策與學科差異
(1)?單位明確要求?:部分高?;蚪逃龣C構可能指定需發表在國內核心期刊,而《集成電路應用》期刊若未入選此類目錄,則可能無效。
(2)學科傾向性:電力類職稱評審中,國內期刊通常更受重視。
三、論文質量與作者身份
內容相關性:論文主題需與申報職稱的專業方向一致,且需為獨立或第一作者完成。
加分權重:普通期刊論文通常用于中級職稱評審,高級職稱可能要求核心期刊或更高影響力成果。
綜上,期刊能否用于評職稱需以單位政策為準,建議結合期刊實際水平和個人職稱等級綜合考量。
《集成電路應用》是由上海貝嶺股份有限公司主辦,中國電子信息產業集團有限公司主管的電力類學術期刊,創刊于1984年,國內統一刊號CN:31-1325/TN,國際標準刊號ISSN:1674-2583,在電力學術領域具有較高的權威性和影響力。
該刊出版周期為月刊,主要欄目有:產業評論、市場分析、設計與研究、工藝與制造、創新應用、新產品、區域動態、讀者信箱等,其內容突出理論性、學術性和探索性,為不同研究方向的學者和電力工作者提供了交流和發表成果的平臺。
其在學術界具有較高的影響力,現被知網收錄(中)、維普收錄(中)、萬方收錄(中)、國家圖書館館藏、上海圖書館館藏等多個電子期刊數據庫收錄,其發表的文章具有較高的學術質量和廣泛的傳播度,這些收錄情況進一步提升了的學術影響力和認可度。
此外,還獲得了中國優秀期刊遴選數據庫、中國期刊全文數據庫(CJFD)等,這些榮譽不僅是對期刊過去努力的肯定,也是對未來發展的激勵。
集成電路應用發表范例
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28 nm鍺硅工藝極微小顆粒缺陷監控方法與改善措施研究
作者:龍吟; 范榮偉; 羅興華
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LDD后熱處理工藝對28 nm PMOSFET短溝道效應的影響
作者:朱巧智; 劉巍; 李潤領
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40 nm CMOS工藝平臺多叉指NMOS器件設計與截止頻率提升
作者:王全; 劉林林; 馮悅怡
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一種通過優化熱處理條件提升CIS器件性能的方法
作者:王艷生; 焦爽; 秋沉沉; 徐炯
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金屬硅化物阻擋層刻蝕對一次性編程單元數據保持性能的影響
作者:黃慶豐
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射頻器件在片測試結構與去嵌入方法
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基于圖像分析的CD-SEM顯微視覺清晰度檢測技術研究
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一種應用于半導體制造業的支持向量機SVM檢測方法
作者:王艷生; 俞微; 魏崢穎
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CTP觸控模組表面貼裝SMT工藝研究
作者:黃貴松; 鄧雄; 崔衛星
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